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全自動晶圓測試分選機

全自動晶圓測試分選機

產品特點 ● 全自動上下料
●高速旋轉馬達處理,時產量高達 8K
●水平24吸嘴,每個吸嘴獨立控制,垂直4*4吸嘴
●配置4個BIN,配置電性測試
●高精度的AOI檢測系統(tǒng)
●配置MES功能,對產品數(shù)據(jù)全程追溯
●支持多次分BIN

產品應用

設備主要應用于晶圓級測試以及后端的封裝測試,評估芯片的性能和質量,確保合格的芯片進入后續(xù)的封裝。主要測試如電性等,并對晶圓進行AOI檢測,經檢測后的晶圓依其性能和缺陷劃分為不同等級并分類,最終放入Tray盤包裝。常用于工規(guī)、車規(guī)、航天航空等更高端領域芯片的測試。


產品參數(shù)

內容

技術參數(shù)

檢測功能

六面檢測

吸嘴數(shù)目

吸嘴數(shù)目

放置精度

±100um

Bin個數(shù)

ABCD4個Bin

上料方式

Wafer自動上料

下料方式

Tray盤、華夫盒等

Wafer尺寸

4,6,8,12寸

Die尺寸

0.5x0.5 mm to 30.0x30.0mm

Die厚度

0.1mm up to 1.5 mm

UPH

8K-24K

測試功能

具備

二次分Bin

具備

紅外光學系統(tǒng)

具備


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